X-Strata920 - RF System zur Schichtdickenmessung
X-Strata920
X-Strata920 - kostengünstiges, Röntgenfluoreszenzsystem für die Messung von Schichtdicken und Materialzusammensetzungen.
- Messen Sie Schichtdicke und/oder Zusammensetzung im Elementbereich zwischen Ti und U
- 5 Schichten / 15 Elemente / verschiedene Korrekturmodelle
- Parallele Analyse von bis zu 15 Elementen
- Messverfahren gemäß ISO 3497, ASTM B568 und DIN 50987.
- Anwendungen
- Spezifikation
- Messung mehrschichtiger Metallbeschichtungen
- Legierungsidentifikation und chemische Analyse
- Analyse von Galvanikbädern
- Goldschmuckanalyse
- Elementbereich
- Ti bis U - Messbare Schichtaufbauten und Zusammensetzungen
- 5 Schichten, Basis und vier Schichten
- Bis zu 15 Elemente, simultan - Anregung
- 50 W (50kV, 1mA) Mikrofokusröntgenröhre mit W - Anode - Detektor
- Gasgefüllter (Xenon) Proportionalzähler mit bis zu 3 Filtern - Kollimatoren
- Bis zu 6 Kollimatoren verschiedenster Form (rund, quadratisch, rechteckig) - Digitaler Pulsprozessor
- Vielkanalanalysator mit 4096 Kanälen
- Automatische Signalverarbeitung mit Totzeitkorrektur und Summenlinienkorrektur - Standard FP Softwarepaket
- Zur schnellen und einfachen Kalibrierung - Rechner / Betriebssystem
- Pentium D, 3,0 GHz, 160 GB HDD, 512 MB RAM mit Microsoft™ XP oder höher - Laserfokus
- Zur genauen und schnellen Positionierung - Kamera
- 1/3” CCD-640x512 VGA Auflösung - Netzanschluss
- 85~130 oder 215~265 V, 47Hz bis 63Hz - Umgebungsbedingungen
- 10°C bis 40°C, bis 98% Luftfeuchtigkeit, nicht kondensierend
Gewicht 97 kg - Schlitzkammer
- Mit motorisierter Z-Achse - Motortisch
- Programmierbar : 178 x 152 x43 mm
- Grösse: 610 x 610 mm - Masse - Feste Grundplatte: 356 x 711 x305 mm
- Kleinkammer: 356 x 711 x413 mm µ
- Motortisch: 610 x 978 x 381 mm
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