Die Röntgenfluoreszenzsysteme X-Strata980 und X-Strata920 bieten die Möglichkeit, sowohl Schichtstärken als auch Zusammensetzungen dieser Schichten zu messen. Darüber hinaus besteht die Möglichkeit der Materialanalyse im Bereich zwischen Titan und Uran.

Mit diesen bewährten Systemen können sowohl bis zu fünf Schichten als auch bis zu 15 Elemente in einer Messung bestimmt werden. Die angewendeten Messverfahren entsprechen den Normen ISO 3497, ASTM B568 und DIN 50987.

Neben den Röntgenfluoreszenzsystemen bietet Oxford Instruments eine breite Palette an tragbaren Systemen zur Messung von Einfachbeschichtungen. Dazu kommen neben der Leitfähigkeitsmessung auch die Magnet- und Wirbelstromtechnik zum Einsatz für die präzise Bestimmung von Schichtstärken. Schichtdicken-messgeräte von Oxford Instruments bringen Wissenschaft und Technologie in Einklang mit dem Verständnis für die Bedürfnisse unserer Kunden. Präzise Messungen von Pulverbeschichtungen, Plattierungen, Anodisierungen, stromlosen Nickelbeschichtungen und Galvanisierungen sind nur ein Teil einer Vielzahl von Anwendungen in unterschiedlichsten Industriebereichen, auch in widrigsten Umgebungen.

Lokale Unterstützung und ein globales Netzwerk gewähren eine erstklassige Unterstützung für alle Produkte von Oxford Instruments. Unsere langjährige Erfahrung ist dabei die Grundlage für eine umfangreiche Betreuung, auch nach Anschaffung des Systems